全球備受信賴的顯微分光光度計(jì)品牌CRAIC 產(chǎn)品系列及應(yīng)用范圍

• CRAIC Technologies 是一家位于美國(guó)加利福尼亞州圣迪馬斯市的科學(xué)儀器公司，是創(chuàng)新光譜解決方案的供應(yīng)商，專門(mén)設(shè)計(jì)和制造用于光譜分析和成像的優(yōu)良儀器。CRAIC Technologies致力于追求卓yue和客戶滿意度，不斷拓展光譜技術(shù)的邊界，為研究人員和行業(yè)專業(yè)人士提供優(yōu)良的科學(xué)發(fā)現(xiàn)和分析工具。其市場(chǎng)遍布全球。CRAIC公司創(chuàng)始人：保羅?馬丁博士、李珠美博士。自 2002 年起，公司專注于制造紫外 - 可見(jiàn) - 近紅外（UV - VIS - NIR）波段的微型光譜分析解決方案。CRAIC 在中國(guó)的授權(quán)經(jīng)銷商為北京中顯恒業(yè)儀器儀表有限公司。

• 產(chǎn)品涵蓋：UV -  VIS - NIR 微型光譜儀（MSP）及相關(guān)顯微鏡產(chǎn)品，還有其他顯微鏡技術(shù)相關(guān)產(chǎn)品。

• 核心產(chǎn)品示例：VIS -   NIR 拉曼顯微光譜儀、用于折射率定量分析的設(shè)備等。

為何選擇 CRAIC 產(chǎn)品？

• 全球信賴的品牌：CRAIC 是全球備受信賴的顯微分光光度計(jì)品牌。

• 性能可靠：所有系統(tǒng)都具備強(qiáng)大且可靠的性能。

• 技術(shù)融合優(yōu)勢(shì)：專注于將光譜技術(shù)與微觀采樣區(qū)域相結(jié)合。

• 專業(yè)團(tuán)隊(duì)支持：擁有靈活且響應(yīng)迅速的團(tuán)隊(duì)，可提供儀器定制和技術(shù)支持服務(wù)。

定制工具的模塊化設(shè)計(jì)

• 顯微分光光度計(jì)連接方式：通過(guò)光電管端口連接到顯微鏡，還可擴(kuò)展其他端口。

• 拉曼模塊適配：拉曼模塊可安裝在顯微鏡的無(wú)限遠(yuǎn)空間內(nèi)。

• 光譜技術(shù)選擇：基礎(chǔ)顯微鏡的類型決定了可使用的光譜技術(shù)。

CRAIC 儀器的應(yīng)用領(lǐng)域

• 法醫(yī)微量物證分析

• 材料科學(xué)、物理與化學(xué)：包括材料表征、半導(dǎo)體制造、平板顯示質(zhì)量控制等。

• 地質(zhì)檢測(cè)

顯微鏡型號(hào)

• UVM - 3：功能更強(qiáng)大，但價(jià)格較高。

• UVM - 1：具有預(yù)算友好的特點(diǎn)，在透射光（TL）下覆蓋 UV - VIS - NIR 波段，在反射光（RL）下覆蓋 VIS - NIR 波段。

顯微分光光度計(jì)型號(hào)

• 2030PV Pro：基于 UVM - 1 框架，配備 UVM - 1 的 MSP 主機(jī)單元，最多可支持 3 個(gè)光譜儀。

• 508PV：MSP 主機(jī)單元可添加到現(xiàn)有顯微鏡上，用于 1 個(gè)光譜儀。

• Flex Pro：基于 UVM - 3 框架，用于更高級(jí)的光譜分析。

拉曼及成像產(chǎn)品

• Apollo - M：共聚焦拉曼系統(tǒng)，可與顯微鏡配套銷售，也可添加到現(xiàn)有顯微鏡上。

• GeoImage：用于鏡質(zhì)體反射率測(cè)量的相機(jī)和軟件套裝。

• rIQ3：用于法醫(yī)折射率測(cè)量的系統(tǒng)，包含相機(jī)、熱臺(tái)、濾光片、標(biāo)準(zhǔn)樣品和油等。

CRAIC 針對(duì)各市場(chǎng)的銷售產(chǎn)品

• 微量物證實(shí)驗(yàn)室：根據(jù)預(yù)算選擇      MSP 型號(hào)（僅配備 UV - VIS 探測(cè)器，無(wú) NIR - SWIR），可添加 785nm 拉曼功能。

• 材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室

• 核化學(xué)、單晶（鑭系 / 錒系）研究：適用 350  - 1700nm 光譜范圍。

• 二維材料研究：適用 200    - 2100nm 光譜范圍，可進(jìn)行透射 / 反射（T/R）和拉曼分析。

• 超材料 / 納米結(jié)構(gòu)陣列研究：適用 200   - 2100（或 2500）nm 光譜范圍，可進(jìn)行 T/R 和拉曼分析。

• 顯示 / 半導(dǎo)體領(lǐng)域：適用 VIS 顏色分析，或 200 - 1000nm、200 - 2100nm 光譜范圍的 T/R 分析。

• 地質(zhì)實(shí)驗(yàn)室

• 鏡質(zhì)體反射率測(cè)量：使用 GeoImage。

• 煤巖組分計(jì)數(shù)：使用 GeoImage 或 MaceralID。

• 殼質(zhì)組熒光 R/G 比測(cè)量：使用GeoImage 或搭配 508PV 進(jìn)行分析。